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dc.contributor.authorAit Mokrane, Wissem-
dc.contributor.authorBakli, Soraya-
dc.contributor.authorHanfoug, S.;promoteur-
dc.date.accessioned2021-02-28T13:11:21Z-
dc.date.available2021-02-28T13:11:21Z-
dc.date.issued2020-
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/123456789/14684-
dc.descriptionOption : micro électroniqueen_US
dc.description.abstractLe présent mémoire vise à proposer une nouvelle version des modèles de comportement des convertisseurs analogiques numériques CAN à 8bits, de type registre à approximation successive SAR, sachant qu'on a utilisé la technique de mode tension pour réaliser ce type de convertisseurs en technologie CMOS seulement. Ce travail a été réalisé dans l'environnement MATLAB avec une focalisation détaillé sur les blocs constructifs des convertisseurs analogiques numériques : comme l'échantillonneur bloqueur (E/B), le comparateur, le convertisseur numérique analogique CNA et l'encodeur. Les deux blocs échantillonneur E/B et CNA ont été mis en application en employant des commutateurs de sources tension. En tenant compte des facteurs non-idéaux de chaque bloc comme (phénomène " clock feedthrough " le phénomène " injection de charges ", l'erreur sur l'instant échantillonnage " jitter ", le bruit de scintillation " flicker noise ", l'offset de comparateur). Les résultats de simulation ont été analysés de maniéré à éclairer l'infection des paramètres des convertisseurs par ces facteurs.en_US
dc.language.isofren_US
dc.publisheruniversité Abderahmene Mira .Bejaiaen_US
dc.subjectCAN : Paramètres des convertisseurs : Numérique analogiqueen_US
dc.titleModélisation et simulation des facteurs non idéaux dans le CAN SARen_US
dc.typeThesisen_US
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