Etude de quelques cristaux par diffraction de rayons X.

Abstract

La diffraction des rayons X (XRD) est une puissante technique non destructive pour caractériser les matériaux cristallins. Il fournit des informations sur les structures, les phases, les orientations cristallines préférées (texture) et d'autres paramètres structurels, tels que la taille moyenne des grains, la cristallinité, la déformation et les défauts cristallins. Les pics de diffraction des rayons X sont produits par l'interférence constructive d'un faisceau monochromatique de rayons X diffusés à des angles spécifiques à partir de chaque ensemble de plans de réseau dans un échantillon. Les intensités maximales sont déterminées par la distribution des atomes dans le réseau. Par conséquent, le diagramme de diffraction des rayons X est l'empreinte digitale d'arrangements atomiques périodiques dans un matériau donné.