Abstract:
Le présent travail rassemble plusieurs et différents résultats concernant l’élaboration ainsi que les caractérisations structurales, optiques et électriques des couches minces SnO 2 . L’analyse par diffraction desrayons X permet de déterminer la nature des phases formées. Le film d’étain formé par « dip-coating » est polycristallin avec une orientation préférentielle le long des directions (110) et (101). Il est de structure tétragonale et pour une durée de recuit de deux heures le dioxyde d’étain (SnO 2 ) apparaît et augmente en quantité et les cristallites des films obtenus ont une taille varie de 9,5 à 12,16 nm. Les spectres UV-Visible en mode absorption et en transmission optique montrent que les films de SnO 2 sont de bonne qualité optique avec une transmission de 84 à 90% dans le visible et une forte absorption dans UV. Cela est confirmé par l’analyse (PL). L’augmentation de l’épaisseur de la couche améliore la qualité cristalline du film et augmente le gap optique de 3,6 à 4, 07 eV par contre la transmission est diminuée avec l’augmentation de l’épaisseur et la molarité. Les résultats de la mesure électrique montre que la résistivité diminue avec la molarité jusqu'à
45 Ω.cm avec une faible conductivité de 2,2 × 10 −2 Ω −1 . 𝑐𝑚 −1 ce qui prouve que nos films sont des semi-conducteurs.
