Abstract:
Ce travail consiste à l'élaboration et la caractérisation des couches minces de SnO2 élaborées par voie sol-gel et déposées par la technique dip-coating, Nous avons mis en évidence l'influence de l'épaisseur et de la température de séchage sur les propriétés structurales, optiques et électrique des films minces élaborés. Pour cela, diverses techniques d'investigation ont été utilisées : DRX, profimimétrique, UV-Visible et mesure eléctrique. Les résultats obtenus montrent que l'augmentation de la température de séchage et du nombre de couches déposés, provoquent l'amélioration de la qualité des films et permet aussi d'obtenir des couches épaisses. La cristallinité des couches mince s'améliore à partir de 200°C et de 6 couches. Les phases qui apparaissent sont le quadratique de type cassitérite rutile de SnO2 et la romarchite du SnO à la température 200°C. La taille moyenne des cristallites des couches minces de SnO2 évolue avec l'augmentation de la température et le nombre de couche. Le calcul de l'indice de réfraction obtenu par les spectres de transmittance montre que celui-ci augmente avec la diminution du gap optique qui varie en fonction des paramètres étudiés. Les couches minces sont transparentes dans le visible et opaques dans l'UV. Les mesures électriques montrent que la conductivité des films minces élaborés augmente avec l'épaisseur de la couche.
