Abstract:
Le test en production des circuits intégrés analogiques est coûteux aussi bien en
ressources (équipement de test sophistiqués) qu’en temps de test qui est trop long. Afin de réduire
ces coûts, des techniques de DFT (Design For Test) et d’auto test BIST (Built-in-Self-Test) sont
envisagées. Cependant, la qualité d’une technique de test est évaluée en fonction des métriques
de test. Pour obtenir une estimation de ces métriques avec une grande précision de l’ordre de ppm
(parties-par-million) un premier échantillonnage des paramètres de sorties du circuit sous test est
obtenu par simulation électrique de type Monte Carlo. Celui-ci permettra d’extraire le modèle
statistique de la densité de probabilité conjointe de ces paramètres. Nous avons développé dans le
cadre de ce travail un outil permettant d’utiliser ces paramètres afin de générer, en utilisant soit
un modèle statistique multinormal ou un modèle basé sur les copules, un échantillon de circuits
d’une taille très importante pour lesquelles les métriques de test seront estimées. Par la suite, cette
estimation sera utilisée pour la fixation de limites de test.
