Abstract:
Ce projet de master visait à développer un modèle analytique pour prédire l'indice de réfraction
effectif de structures multicouches périodiques composées de CDTE, deux semi-conducteurs
III-V couramment utilisés en optoélectronique. Le formalisme matriciel de transfert optique a
été utilisé pour modéliser ces empilements et étudier leur réponse optique en fonction de
paramètres géométriques tels que l'épaisseur des couches, l'angle d'incidence et le nombre de
couches. Les résultats ont permis d'analyser les spectres de réflexion, de transmission et l'indice
de réfraction effectif en mettant en évidence l'influence des interférences optiques, du guidage
de la lumière et de la structure multicouche. Cela ouvre des perspectives pour optimiser la
conception de composants optoélectroniques à base de ces empilements GaAs/AlGaAs.
This master's project aimed to develop an analytical model to predict the effective refractive
index of periodic multilayer structures composed of CDTE, two III-V semiconductors
commonly used in optoelectronics. The optical transfer matrix formalism was used to model
these stacks and study their optical response as a function of geometric parameters such as layer
thickness, angle of incidence and number of layers. The results made it possible to analyze the
reflection, transmission spectra and the effective refractive index by highlighting the influence
of optical interference, light guiding and multilayer structure. This opens perspectives for
optimizing the design of optoelectronic components based on these GaAs/AlGaAs stacks.
