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dc.contributor.authorMeddour, Smail-
dc.contributor.authorIarichen, Hakim-
dc.contributor.authorAchour, Lyakout ; promoteur-
dc.date.accessioned2021-03-01T13:23:30Z-
dc.date.available2021-03-01T13:23:30Z-
dc.date.issued2020-
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/123456789/14767-
dc.descriptionOption : microélectroniqueen_US
dc.description.abstractLe transistor est probablement l'invention la plus géniale de l'ère moderne. Les fonctionnalités qu'il peut accomplir, depuis sa création en 1937, ont permit aux scientifiques de développer, de mieux en mieux, des applications RF à haute performance liés à l'industrie électronique. Notre travail est porté sur l'analyse de comportement petit signal du transistor MOS SOI 130nm, qui ne peut se faire sans la modélisation de ce dernier. Ceci nous a permis de reproduire les phénomènes physiques et électriques régissant ce type de composant, ainsi que l'extraction des paramètres qui constituent son schéma électrique équivalent dans des plages de fréquences allant jusqu'à 40 GHz. L'extraction a été effectué à différents points de polarisation à partir des données expérimentales (paramètres [S]), disponibles au niveau du centre de développement des technologies avancées CDTA.en_US
dc.language.isofren_US
dc.publisheruniversité Abderahmene Mira .Bejaiaen_US
dc.subjectMOS SOI 130nm : Modélisation : Transistoren_US
dc.titleContribution à l'analyse du comportement petit signal du transistor MOS SOI 130nm.en_US
dc.typeThesisen_US
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