Abstract:
Ce travail de mémoire porte sur l'élaboration et la caractérisation de couches minces de ZnO
non dopées et dopé avec de Cérium (1%, 2% et 3%) déposées sur des substrats en verre
préalablement nettoyés par une méthode de chimie douce ; le Sol-Gel et la technique de dépôt
dip-coating "Trempage-Tirage". La préparation de la solution consiste à mélanger un
précurseur d'acétate de zinc avec le méthanol comme solvant et le Méthanol-amine comme
stabilisateur. Le dopage a été réalisé en utilisant le nitrate de Cérium [Ce(NO3)3,9H2O]. Les
films obtenus sont traités finalement, à une température plus élevée pendant 2h.
Les couches fabriquées ont été ensuite analysées par plusieurs techniques : la diffraction des
rayons X (DRX) pour analyser la structure des films, la spectrophotométrie UV-visible pour
déterminer les propriétés optiques des couches minces et la méthode des quatre pointes pour
déterminer les propriétés électriques (la résistivité).
La DRX permet de confirmer la formation de ZnO avec une structure hexagonale de type
wurtzite avec une direction préférentielle suivant (002). La caractérisation par
spectrophotométrie UV-Visible des couches minces élaborées a montré que tous les films
présentent une transmission optique supérieure à 80% dans le visible. Le dopage avec 2% de
Ce donne une résistivité minimale.
